ニュース
» 2018年06月25日 07時00分 公開

システム計画研究所:正常データのみで学習可能な外観検査ソフトウェア「gLupe」開発キット

システム計画研究所は、製造業向け外観検査ソフトウェア「gLupe」開発キットの販売開始を発表。数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できるという。

[八木沢篤,TechFactory]

大量の異常データ収集や学習の手間が不要に

 システム計画研究所は2018年6月13日、製造業向け外観検査ソフトウェア「gLupe」開発キットの販売開始を発表した。

 ディープラーニングを応用したgLupeは、同社独自技術により、数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できる外観検査ソフトウェアである。

数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できる 数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できる(出典:システム計画研究所)

 従来、不良品を検出するためには、正常データだけではなく、異常データも大量に収集し、学習する必要があったが、gLupeは数十枚のデータから正常状態の特徴を学ぶため、異常データの収集や学習の手間が不要。そのため、製造ラインへの導入コストを最小限に抑えることができるという。

開発キットと併せて、柔軟なサポートサービスも提供

Copyright © ITmedia, Inc. All Rights Reserved.

Loading