NEC、良品データの学習のみで不良品を検出するAIエンジンを製品化：NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習

NECは、画像データを用いた検品業務の効率化などを実現するAI技術群「NEC the WISE」の1つであるディープラーニング技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習」を強化し、販売活動を開始した。

» 2018年05月21日 07時00分公開

[八木沢篤，TechFactory]

　NECは2018年5月8日、画像データを用いた検品業務の効率化などを実現するAI技術群「NEC the WISE」の1つであるディープラーニング技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習」を強化し、販売活動を開始したことを発表した。

　不良品を検出する検品業務に機械学習を活用する際、通常、良品と不良品双方の画像データを1000件規模で事前学習する必要がある。しかし、そもそも製造精度の高い日本の工場などでは、不良品データを大量に収集することが困難で、検品業務にAIを導入しにくいという課題を抱えていた。

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