　同社によると、SiCやGaNの商品化に伴い、パワー半導体デバイス製造メーカーは、製造プロセスでウエハーレベルのテストシステムを採用し、歩留まりの最適化や利益率の向上を図っている。S540型を活用することで、テスト時間を短縮し、設置スペースも節約するため、所有コストの低減と研究室レベルの高電圧測定性能を実現できるという。

パワー半導体テストシステム「S540型」

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　テクトロニクスのケースレープロダクト部門でジェネラルマネジャーを務めるMike Flaherty氏は、「多くの製造現場は、パワー半導体テストで低電圧テストから高電圧テストに切替える場合、テストセットアップをマニュアルで切り替える必要のある独自のハイブリッドテストシステムでテストを行っている。そのため、手順が増えて、製造スピードが低下してしまう。これに対して、S540型は完全自動のソリューションであり、数多くのデバイスを素早くテストしなければならない製造環境に最適である」と語る。

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1GHzの帯域幅に対応したベクトル信号トランシーバーの第2世代品
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サーモグラフィとの切り替えが可能な波形同期型ハイスピードカメラ
シナノケンシは、波形同期型ハイスピードカメラ「PLEXLOGGER」の最新モデル「PL3」に、ハイスピードカメラとサーモグラフィとの切り替えが可能なマルチカメラ機能を搭載した。