システム計画研究所

正常データのみで学習可能な外観検査ソフトウェア「gLupe」開発キット

システム計画研究所は、製造業向け外観検査ソフトウェア「gLupe」開発キットの販売開始を発表。数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できるという。

公開 2018年06月25日 07時00分

著者

八木沢篤

[TechFactory]

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大量の異常データ収集や学習の手間が不要に

　システム計画研究所は2018年6月13日、製造業向け外観検査ソフトウェア「gLupe」開発キットの販売開始を発表した。

　ディープラーニングを応用したgLupeは、同社独自技術により、数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できる外観検査ソフトウェアである。

数十枚の正常データのみで学習し、不良品を検出できる（出典：システム計画研究所）

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　従来、不良品を検出するためには、正常データだけではなく、異常データも大量に収集し、学習する必要があったが、gLupeは数十枚のデータから正常状態の特徴を学ぶため、異常データの収集や学習の手間が不要。そのため、製造ラインへの導入コストを最小限に抑えることができるという。

開発キットと併せて、柔軟なサポートサービスも提供

　今回販売を開始する「gLupe開発キット」は、学習と評価を手軽に行える「学習・評価用アプリケーション」と、学習結果を用いたソフトウェア開発を行うための「推論ソフトウェア開発用SDK」で構成されている。ユーザーは、学習・評価用アプリケーションによって効率的に学習および評価作業が行え、推論ソフトウェア開発用SDKで運用に適した自由なシステム開発が行える。

「gLupe開発キット」の構成（出典：システム計画研究所）

　学習・評価用アプリケーションおよび推論ソフトウェア開発用SDKの推奨システム環境は以下の通りである。


OS	Microsoft Windows 10（64bit）日本語版
CPU	Intel Core i5以上
GPU	CUDA対応NVIDIA製GPU メモリ2GB以上 Maxwell以降
表1　必要システム構成