連載
ソフトウェアテストの試練(後編)―IoTとAI、ビッグデータが愛したテスト:IoTとAI、ビッグデータ時代のソフトウェアテスト(7)(1/4 ページ)
IoTとAI、ビッグデータが一般化した時代に求められるソフトウェアテストとは、どのようなものになるのか、今回は新時代に求められるテストの必要条件とは何かを見ていくことにする。
前回はテストの前提となるソフトウェア開発について、伝統的なウオーターフォール型開発からアジャイル型開発、そして新時代の開発までを紹介した。ソフトウェアテストもソフトウェア開発プロセスの一端であることから開発プロセスを振り返りつつ、ソフトウェアテストを見ていくことにする。
【連載】IoTとAI、ビッグデータ時代のソフトウェアテスト
・第6回:ソフトウェアテストの試練(前編)―IoTとAI、ビッグデータの試練を乗り越える開発
・第5回:ソフトウェアテストの手法と施策(後編) ソフトウェアテストの手法と施策(後編)「テストの施策」を反省する
・第4回:ソフトウェアテストの手法と施策(中編) 幸せになれるソフトウェアテストの選び方
・第3回:ソフトウェアテストの手法と施策(前編) テストの分類
・第2回:ソフトウェアテストのコストと品質(後編)―現場と「上」で一緒に考える
・第1回:ソフトウェアテストのコストと品質(前編)―「テストの究極の問題」を考える
従来手法の怨念
ここでは従来のソフトウェアテストをもう一度振り返ってみることにする。
連載の第3回と第4回ではウオーターフォール型開発におけるテスト手法を中心に取り上げ、第5回では工程別のテスト施策として、単体テストから結合テスト、システムテストを紹介した。そこで取り上げたウオーターフォール型開発のV字モデルを図1に示す。
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