日本NI PXIe-5413

テストシステムの省スペースと低コストに貢献する計測機

日本ナショナルインスツルメンツがPXI対応の任意波形発生器「PXIe-5413／5423／5433」と8CHオシロスコープ「PXIe-5172」を発表した。いずれもPXIの1スロット幅であり、テストシステムの省スペース化とコスト低減に貢献する。

公開 2017年06月12日 08時00分

更新 2018年08月15日 12時14分

著者

渡邊宏

[TechFactory]

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　日本ナショナルインスツルメンツは2017年6月2日、PXI対応の任意波形発生器「PXIe-5413／5423／5433」と8CHオシロスコープ「PXIe-5172」を発表した。いずれもPXIの1スロット幅であり、テストシステムの省スペース化とコスト低減に貢献する。

　PXIe-5413／5423／5433は80MHzのアナログ帯域幅を有する任意波形発生器で、最大2チャンネルを個別に制御できるデュアルチャンネル仕様となる。新機能として任意波形発生時に元の波形のサンプリングレートに関わらずダイナミックレンジやジッタ性能を引き出す「フラクショナルリサンプリング」機能を搭載した。出力範囲は最大±12V、最小±7.75mVで、帯域幅に応じて3モデルが用意されている。

「PXIe-5413／5423／5433」（左）と「PXIe-5172」

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　オシロスコープのPXIe-5172はFPGAの搭載によって利用者が自由にプログラムでき、そのカスタマイズはLabVIEWから可能だ。計測チャンネルは最大8つ台で、帯域幅は100MHz、サンプルレートは250MS/sに対応する。入力電圧範囲は最大80V（ピークトゥピーク）、±20VDCオフセット。外部のサンプル／レファレンスクロックにも対応する。

　任意波形発生器のPXIe-5413／5423／5433はNI-FGENドライバとの互換性を持っており、また、オシロスコープのPXIe-5172はFPGA搭載によるカスタマイズが容易であるため、同社では標準ハードウェアであるPXIとソフトウェア中心のアプローチによるテストの自動化や省力化に結び付くとしている。

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